電子陶瓷用二氧化鈦中雜質的發射光譜分析方法SJT10552-2021.pdf
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- 電子陶瓷 氧化 雜質 發射光譜分析 方法 SJT10552 2021
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《電子陶瓷用二氧化鈦中雜質的發射光譜分析方法SJT10552-2021》講解了有關于如何利用發射光譜法對電子陶瓷生產過程中所用二氧化鈦原料中的雜質成分進行系統檢測和定量分析的技術規程。文件詳細規定了適用于該種材料樣品制備、測試條件設定等步驟要求，并且針對各類微量元素諸如鐵、鋁、鈣、鎂等多種在工藝流程中可能會干擾或影響產品質量的關鍵指標雜質元素確立了具體的檢測流程與方法。文中列舉并解析了使用發射光譜儀時的儀器參數調節，包含波長選擇范圍、觀測方式以及校正曲線制定等方面的要求來確保結果的準確性與穩定性，從而為后續電子陶瓷加工過程提供可靠的基礎數據支持。
《電子陶瓷用二氧化鈦中雜質的發射光譜分析方法SJT10552-2021》適用于電子陶瓷及相關行業的研發人員和技術工程師，特別針對那些需要嚴格控制原料純度以確保產品性能穩定的專業領域。這份文檔對于質檢部門而言也是不可或缺的操作指南，在實際生產中，它幫助確保進入生產鏈的每一批二氧化鈦都符合預定標準，減少了因原材料質量問題引起的一系列成品缺陷問題的可能性。此外，此文件同樣為從事該類物質進出口業務的企業提供官方認可的標準依據。
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